真理光學(xué)儀器有限公司專(zhuān)注于高端顆粒表征儀器的研發(fā)和制造，產(chǎn)品涵蓋激光（衍射法）粒度分析儀、動(dòng)態(tài)光散射納米粒度及Zeta電位分析儀以及顆粒圖像分析儀，既有實(shí)驗室儀器，又有在線(xiàn)檢測系統。真理光學(xué)秉持“科學(xué)態(tài)度，工匠精神”，為用戶(hù)提供世界先進(jìn)的高端產(chǎn)品和服務(wù)。
真理光學(xué)匯集了以張福根博士為代表的全國顆粒表征領(lǐng)域的優(yōu)秀人才。張福根博士現任本公司董事長(cháng)兼首席科學(xué)家，還擔任全國顆粒表征及分檢與篩網(wǎng)標準化技術(shù)委員會(huì )副主任委員、天津大學(xué)兼職教授，曾擔任中國顆粒學(xué)會(huì )副理事長(cháng)，同時(shí)也是“歐美克”字號公司的創(chuàng )始人。曾擔任英國某粒度儀器公司中國總經(jīng)理20余年的秦和義先生擔任本公司商務(wù)總經(jīng)理，中國顆粒學(xué)會(huì )青年理事潘林超博士、陳進(jìn)博士擔綱公司的研發(fā)主力。
激光（衍射法）粒度儀雖然已得到廣泛應用，但還存在需要完善的地方，不論是科學(xué)基礎方面，還是技術(shù)方案方面。真理光學(xué)的團隊針對當前市面上儀器存在的不足，展開(kāi)了系統的理論研究和技術(shù)創(chuàng )新，發(fā)現了衍射光斑（愛(ài)里斑）的反常變化現象（ACAD），解釋了為什么不能測量3μm左右的聚苯乙烯微球，并給出了反常區（不能測量粒徑）的一般公式；研究了衍射儀器的測量上限和下限；研究了顆粒折射率偏差對測量結果的影響，發(fā)明了兩種根據散射光分布估算顆粒折射率的方法;提出了斜置梯形窗口技術(shù)方案（專(zhuān)利），解決了前向超大角測量盲區的問(wèn)題，使衍射儀器的亞微米顆粒測量水平顯著(zhù)提高;提出了統一的反演算法（專(zhuān)有技術(shù)），消除了不同計算模式給出不同結果的尷尬；設計出了高達20Kfps的超高速并行數據采樣電路，使干法測量的精度不亞于濕法測量，對高速?lài)婌F場(chǎng)的測量（時(shí)間）分辨率也更高。
在納米粒度及Zeta電位儀方面，真理光學(xué)提出了比相位分析法（PALS）更先進(jìn)的余弦擬合相位分析法（CF-PALS），用光纖分束取代了傳統的平板分束鏡分束，用光纖內光干涉取代了自由空間干涉，使Zeta電位的測量重復性大幅度提高。
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