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氣載顆粒計數器

更新時(shí)間：2025-02-27

價(jià)格：面議

品牌：真理光學(xué)

型號： APC 610

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產(chǎn)品詳情

產(chǎn)品關(guān)鍵詞：氣載顆粒計數器

是否為生產(chǎn)商：是

最低訂購量： 1

供貨能力： 2000

付款方式：全款

交貨周期： 30天

主要銷(xiāo)售市場(chǎng)：中國

產(chǎn)品描述：

APC 610氣載顆粒計數器vs傳統光阻法顆粒計數器

真理光學(xué)APC 610 氣載顆粒計數器	傳統光阻法顆粒測試
能夠測量顆粒的真實(shí)幾何粒徑	只能測量顆粒的等效消光粒徑
測量準確性不受顆粒的折射率和吸收系數影響,無(wú)論什么材料組成的顆粒，都能得到準確的測量結果	受顆粒材料的折射率和吸收系數影響, 比如較低吸收系數的顆粒, 測量結果會(huì )偏小；反之，測量結果會(huì )偏大
測量準確性高，粒徑測量的理論誤差不超過(guò)1%	準確性無(wú)保證
能提供詳盡的粒度分布數據	只能提供粗略的粒度分段數據
測量單元與驅動(dòng)單元分離，并與采樣斗直接相連設計（專(zhuān)利技術(shù)），測量單元可放置到狹小空間測量，避免了管道污染對測量準確性的影響	只能把采樣斗放置到測量空間，管道內的顆粒沉積與污染直接影響測量結果的準確性
測量單元內測量室和采樣斗可拆卸(專(zhuān)利技術(shù))，便于清潔和更換；而管道的污染對測量無(wú)影響	測量室清潔困難，管道難以徹底清洗

原理：

本儀器基于顆粒消光原理，采用獨創(chuàng )的光學(xué)空間低通濾波硬件技術(shù)，結合衍射修正算法專(zhuān)利，能準確測量微米級氣載顆粒的粒度分布和個(gè)數。

產(chǎn)品優(yōu)勢：

目前已有的光阻法顆粒計數器已經(jīng)廣泛應用于無(wú)塵室的空氣中顆粒（氣載顆粒）監控, 但是由于光路原理和采樣算法等局限設計, 現有的光阻法儀器無(wú)法對空氣中的大顆粒進(jìn)行較為準確的采樣以及測量，本產(chǎn)品能準確測量微米級氣載顆粒的粒度分布和個(gè)數，覆蓋了當前儀器市場(chǎng)上未能監控大顆粒的痛點(diǎn)。

主要特征：

主要性能指標
◆ 測量范圍28μm~640μm
◆ 單機報告顯示9粒徑通道，內置36粒徑通道
◆ 粒徑重復性標準誤差<2%
◆ 粒徑準確性標準誤差<5%
◆ 全量程顆粒數量誤差<10%
◆ 風(fēng)機流量偏差±2L/min

珠海真理光學(xué)儀器有限公司

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