NS-90Z Plus納米粒度及電位分析儀是珠海歐美克儀器有限公司在成功引進(jìn)和吸收馬爾文帕納科 (Malvern Panalytical)納米顆粒表征技術(shù)后，在上一代NS-90Z的基礎(chǔ)上進(jìn)一步優(yōu)化了光學(xué)電子測量技術(shù)和分析性能的一款新產(chǎn)品。NS-90Z Plus具有更優(yōu)越的粒度和電位分析功能，能滿足廣大納米材料、制劑開發(fā)和生產(chǎn)用戶的顆粒粒度和Zeta電位的測試需求。
NS-90Z Plus納米粒度及電位分析儀采用動態(tài)光散射技術(shù)測量粒子和顆粒的粒度，采用電泳光散射技術(shù)測定顆粒Zeta電位和電位分布，同時兼有靜態(tài)光散射技術(shù)用于測定蛋白質(zhì)與聚合物等的分子量。NS-90Z Plus融合馬爾文帕納科恒流模式下的M3-PALS快慢場混合相位檢測分析技術(shù)，提升了儀器的電位分析性能，升級了兼容多種樣品池 (選配) 功能，可分析樣品濃度和粒度范圍也得到了明顯提升。
與此同時，儀器廣泛采用全球化供應(yīng)鏈的優(yōu)質(zhì)光電部件及Scrum軟件迭代升級開發(fā)模式，使其具有高品質(zhì)并能隨用戶需求變化升級管理和報表功能。進(jìn)口雪崩式光電二極管(APD)檢測器、He-Ne氣體激光器光源和高性能相關(guān)器等優(yōu)質(zhì)硬件，加上精確的內(nèi)部溫控裝置、密閉光纖光路設(shè)計以及先進(jìn)的軟件算法，共同保障了數(shù)據(jù)的高重現(xiàn)性、準(zhǔn)確性和靈敏度。NS-90Z Plus支持SOP標(biāo)準(zhǔn)化操作，具有兼容CFDA GMP《計算機(jī)化系統(tǒng)和確認(rèn)與驗證》要求的審計、權(quán)限管理及電子簽名功能以及具有測試數(shù)據(jù)質(zhì)量智能反饋和優(yōu)化建議，方便用戶使用。
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