SAXSpoint 5.0 是采用同步加速器探測器技術的極限 SAXS/WAXS/GISAXS/RheoSAXS 實驗室光束線，可在緊湊型系統(tǒng)中實現(xiàn)最高分辨率。受益于安東帕出色的 SAXS 系統(tǒng)，該系統(tǒng)可解析高達 620 nm 的納米結構。SAXSpoint 5.0 能夠在室溫環(huán)境和非室溫環(huán)境條件下分析幾乎所有材料，具有極大的靈活性。許多其他可選功能使 SAXSpoint 5.0 可以用于未來的微米級 (USAXS) 應用。通過功能強大的軟件包，可以自動進行操作和數(shù)據(jù)分析，輕松實現(xiàn)材料特性的無損研究。
SAXSpoint 5.0 采用高光譜純度和無散射光束準直的高亮度 X-射線束。配備強大的微焦斑光源或 MetalJet X-射線源和高性能光學元件，可在極短的曝光時間內(nèi)提供出色的測量結果。結合最新的混合光子計數(shù) (HPC) 探測器，可確保獲得高質量的 SAXS/WAXS/GISAXS/RheoSAXS 結果，以實現(xiàn)納米結構材料分析。通過這種出色的設置，可以實現(xiàn)極好的分辨率，并以同類產(chǎn)品中最緊湊的系統(tǒng)尺寸解析高達 620 nm 的結構。
SAXSpoint 5.0 具有移動探測器 Slidemaster，可在非常寬的 q 范圍內(nèi)進行全自動 X-射線散射研究。因此，您可以一次性獲得 SAXS 和 WAXS 數(shù)據(jù)，無需重新調(diào)準系統(tǒng)。只需移動探測器，即可為每次實驗選擇最佳的 q 范圍，從最高 SAXS 分辨率到寬的 WAXS 范圍。
SAXSpoint 5.0 為您的測量提供自動光束遮擋器選擇和定位。由于它集成了最新的 EIGER2 R 探測器，因此可以進行無窗和無光束遮擋測量。
自動完成日常測量工作，加快測量速度，是 SAXSpoint 5.0 實驗室系統(tǒng)的標準性能。SAXSpoint 5.0 配備了 Stagemaster，它可以自動對準所有 X-射線成分和樣品臺，識別安裝的樣品臺，并相應地配置系統(tǒng)。這為您的測量設置提供最佳的可能結果。使用 ASX 自動進樣器，對液體樣品，如分散液和生物樣品，自動樣品進出。ASX 自動進樣器可配備最多 192 個樣品，并針對敏感型樣品提供冷卻選件。
幾乎所有種類的納米結構材料都可以使用安東帕的各種樣品臺進行分析。使用 TrueFocus 可以輕松、快速地在不同的樣品臺之間切換，并可確保自動對準所有組件。受益于測量裝置獨有的靈活性。
溫控臺：在 -150°C 到 600 °C 范圍進行控溫研究。
濕度樣品臺：在規(guī)定的相對濕度和溫度條件下進行分析
GISAXS/GIXD 樣品臺：在真空條件下或者與獨特的 GISAXS 加熱模塊（高達 500℃）聯(lián)用研究納米結構表面和薄膜
加熱/冷卻進樣器：利用溫控進樣器進行自動研究（多固相/糊狀/液體樣品或毛細管樣品）
Tensile 樣品臺：在定義的機械載荷下，分析納米結構纖維。定制樣品臺解決方案。
RheoSAXS 模塊：一次性進行完整的流變和納米結構研究
剪切臺：高達 350 °C下的剪切實驗
功能強大的 SAXSdrive™ 和 SAXSanalysis™ 軟件解決方案支持自動執(zhí)行常規(guī)步驟，如測量設置和調(diào)準，以及綜合數(shù)據(jù)分析。設置連續(xù)測量，利用自動進樣、溫度掃描和時間相關研究，并使用可定制的模板分析獲得的 1D 和 2D 數(shù)據(jù)集。確定回轉半徑 (RG)、粒徑、Porod 常數(shù)、比表面積、Kratky 曲線等參數(shù)是 SAXSanalysis™ 的標準功能。對于高級結構解析 (PCG)，如粒徑、粒徑分布、形狀和內(nèi)部結構，可使用 IFT 和去卷積方法。
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