安捷倫氣質(zhì)聯(lián)用儀Agilent 5975C技術(shù)參數
專(zhuān)利設計金石英四極桿增強了性能和可靠性,可達1050 u
新的痕量離子檢測技術(shù)降低了復雜基質(zhì)中的檢測限,提高了基線(xiàn)重復性。
惰性離子源-現在可以程序升溫至350度—增強了活性化合物和后洗脫組分的響應。
同步SIM/掃描模式讓您在對感性趣離子進(jìn)行高靈敏度選擇性監測的同時(shí),獲得可進(jìn)行譜庫檢索的掃描數據。
新的氫EI信噪比指標,可以在更安全的條件下實(shí)現更快速的分析——不會(huì )影響分析質(zhì)量
所有電離模式都在一個(gè)自動(dòng)化序列中;用標準EI離子源進(jìn)行電子轟擊(EI)電離,AutoCI功能使CI像EI一樣容易
高效與初級組件
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